柔性三合一(yī / yì /yí)測試設備

該設備應用于(yú)微小元件的(de)外觀缺陷檢測,電性能測試及成品包裝。采用柔性機構平台搭配穩定的(de)測試平台,擁有靈活 性強、兼容性廣的(de)特點,可滿足不(bù)同客戶對微小元件的(de)檢測需求。
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被測元件
0.25mm*0.125mm,薄如紙片,表面鍍金,對于(yú)測試平台要(yào / yāo)求極高

電測-成盒-六面外觀檢測
電性能測試、外觀檢測、成盒環節,甚至更多台設備的(de)工藝,集成到(dào)一(yī / yì /yí)個(gè)平台上(shàng)

模塊化設計
采用高精度模塊設計搭配柔性機構平台确保高兼容性,高精度直線模組,位置重複精度可達±0.005mm

外觀檢測

成熟視覺搭配AI檢測技術,CCD自動對焦,助力客戶實現各種缺陷的(de)檢測需求

電性能測試

采用标準儀表檢測系統框架,穩定成熟可靠

無損傷

産品接觸受力<1N,确保産品無損傷
Specifications技術規格
操作參數
  • 上(shàng)料類型

    振動篩

  • 适用産品

    SLC/MLC/陣列型電容

  • 尺寸兼容

    10/15/20/25/30/35型産品

  • 最小上(shàng)機産品尺寸

    0.254mmX0.254mm

  • 下料方式

    散料/藍膜/華夫盒/自粘盒

視覺系統
  • 視覺算法

    成熟傳統算法框架+AI檢測技術

  • 外觀檢測

    2面/6面/7面外觀檢測

  • 檢測精度

    識别精度≥10μm

  • 光源模塊

    定制組合光源

電測參數
  • 并聯電容Cp

    重複性精度10pF以(yǐ)上(shàng)≤±0.3%、10pF以(yǐ)下≤±0.03pF

  • 損耗系數D

    重複性精度≤±0.001

  • 絕緣電阻IR

    可測量值>1TΩ,重複性精度≤20%

  • 耐壓測試

    可測量值>1TΩ,重複性精度≤20%

下料參數
  • 藍膜

    擺盤角度偏差≤5°、擺盤最小間距0.1mm

  • 華夫盒

    單邊間隔≥0.03mm

  • 擺盤成功率

    ≥97%


規格
  • 設備UPH

    1.2-2K

  • 數據系統

    實時(shí)數據監控統計、檢測數據保存、導出(chū)等功

  • 設備稼動率

    90%

  • 輸入電源/壓縮空氣

    三相380V/0.5Mpa±0.1Mpa

  • 重量

    950KG(實際重量根據所選功能模塊有差異)

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