EC01系列生瓷帶外觀檢測機

适用于(yú)陶瓷領域,生胚/生瓷帶外觀缺陷檢測
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高穩定性
大(dà)理石平台搭配直線電機,機械定位精度±0.5微米

檢測重複性精度
最高可達±1微米,最小檢出(chū)缺陷5微米

取像可自動糾偏
可選手動/自動上(shàng)下料

自動适應

産品圖形因收縮率不(bù)同等原因導緻的(de)一(yī / yì /yí)緻性問題,實現柔性檢測

自檢設備功能模塊

可選尺寸、面積标準,及設置線寬百分比标準檢測

配方管理系統
搭配自動模塊,一(yī / yì /yí)鍵切換不(bù)同檢測需求

Testing items檢測項目
Specifications技術規格
操作參數
  • 适用産品

    适用于(yú)LTCC/HTCC/MLCC等燒結前的(de)生瓷帶

  • 有效檢測範圍

    最大(dà)支持500mm(可根據客戶需求定制)

  • 産品導入

    支持DXF/DWG/GBR圖紙多圖層導入or合格品匹配

  • 檢測内容

    印刷圖案的(de)缺陷檢測、已填孔或未填孔的(de)孔位缺陷檢測、圖形尺寸測量、厚度測量等


視覺參數
  • 2D尺寸測量相機

    标配:16K黑白線陣相機

  • 2D尺寸測量精度

    最小重複精度±1um(根據所選相機精度會有所不(bù)同)

  • 2D缺陷檢測精度

    最小可識别精度≥5um(根據所選相機精度會有所不(bù)同)

  • 3D厚度測量精度

    最小重複精度±50nm

  • 3D缺陷檢測精度

    最小可識别精度≥10um(根據所選相機精度會有所不(bù)同)



規格
  • 視覺算法

    多圖層算法獨立設置容差+視覺AI深度學習缺陷分類

  • 不(bù)良品标記

    噴墨打點or激光打标or圖形報告

  • 數據儲存

    檢測數據實時(shí)監控、數據保存及數據統計功能

  • 檢測性能

    漏檢率=0%

  • 可擴展功能

    可配備批次/工單/産品等掃碼,及字符OCR識别功能,可增加料倉組件+運動模組or機械手,實現全自動上(shàng)下料,可選配離線軟件分析功能,可對疊層資料進行整體統計分析

  • 可增加料倉組件+運動模組or機械手,實現全自動上(shàng)下料


精度分檔
  • 像素精度

    1.75μm、2.5μm、3.5μm、5μm、7μm

  • 尺寸測量重複精度

    ±2μm、±3μm、±4μm、±5μm、±7μm

  • 最小缺陷檢出(chū)精度

    5μm、8μm、15μm、20μm、30μm

  • 視野寬度

    28mm、40mm、57mm、81mm、114mm

  • UPH(以(yǐ)200*200mm産品爲(wéi / wèi)例)

    20、30、60、120、180

  • 單片拍攝速度(以(yǐ)200*200mm産品爲(wéi / wèi)例)

    131s、69s、38s、21s、12s


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